垂直探傷用的單晶片磁粉探傷機(jī)探頭，主要在縱波探傷使用。磁粉探傷機(jī)直探頭由插座、外殼、維護(hù)膜、壓電晶片、吸聲資料等組成。

      1、超聲波的發(fā)射/接納均由壓電晶片完成；

      2、 維護(hù)膜采用高硬度剛玉片，耐磨損；

      3、鋁合金外殼，外表噴砂/鈍化處置；

      4、吸聲資料用來(lái)吸收晶片反面的噪聲；

      5、插座為電信號(hào)接口，經(jīng)過(guò)探頭線(xiàn)銜接到儀器。

小晶片的探頭（晶片直徑≤12mm），探頭線(xiàn)接口為Q6 插座；其他晶片的探頭，探頭線(xiàn)接口為Q9 插座。直探頭產(chǎn)生的超聲波為垂直于探頭外表的縱波聲束。直探頭的用處十分普遍，典型的用處包括鍛件、鑄件、棒材、板材、軸類(lèi)等。常州超聲波常州探傷儀斜探頭停止斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。斜探頭由斜塊、壓電晶片、吸聲資料、外殼、插座等組成。

超聲波的發(fā)射/接納由壓電晶片完成；斜塊的作用是完成波型的轉(zhuǎn)換，當(dāng)入射角（α）在臨界角和臨界角之間時(shí)，依據(jù)超聲波在不同聲阻抗界面的折射定律，工件中只要橫波的存在；吸聲資料用來(lái)吸收晶片反面、斜塊周?chē)l(fā)散的噪聲；外殼起到支撐、維護(hù)、電磁屏蔽等作用；插座為電信號(hào)接口，經(jīng)過(guò)探頭線(xiàn)銜接到儀器。斜探頭折射角的大小經(jīng)過(guò)K值來(lái)標(biāo)明。

在探頭的型號(hào)上標(biāo)明檢測(cè)鋼工件時(shí)的K值，K=tg(Θ)，即折射角度的正切值。常用的K值有0.8、1.0、1.5、2.0、2.5、3.0 等幾種。采用K值標(biāo)稱(chēng)探頭，缺陷的定位計(jì)算比擬便當(dāng)。斜探頭的聲束與探頭外表傾斜，因而可用于檢測(cè)直聲束無(wú)法抵達(dá)的部位、或者缺陷的方向與檢測(cè)面之間存在夾角的區(qū)域。